SEM+EDS分析：
放大倍數(shù): 5~30萬倍
解 析 度 : 3 nm
分析元素范圍: Be(4)~U(92)
大樣品尺寸: 200 mm
分析對象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件.
功能與目的： 微區(qū)成分分析
失效模式/機(jī)制分析
斷口形貌觀察等

掃描電鏡（Scanning Electron Microscopy，SEM）是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù)，可用于對形貌和表面特征進(jìn)行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡，SEM不需要樣本薄片，可以直接對樣品進(jìn)行觀察，因此適用于分析各種形狀和大小的樣品。 SEM分析過程中，樣品表面被電子束轟擊后，會產(chǎn)生二次電子和背散射電子。這些電子會被探測器捕捉并轉(zhuǎn)換為電信號，形成圖像。SEM圖像具有高分辨率和高對比度，可以顯示出樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)和形貌特征

優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心 材料測試實(shí)驗(yàn)室主要功能：
1. SEM+EDS分析
2. 3D X-RAY檢測＆斷層掃描分析
3. 超聲波掃描（C-SAM）分析
4. 切片（Cross Section）分析
5. 紅墨水（Dye＆Pry）分析
6. 焊點(diǎn)推拉力（Bonding Test）
7. 芯片開封測試（IC-Decapping）
8. 沾錫能力測試
9. 離子濃度測試
10. 表面絕緣阻抗（SIR）測試

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  上海-綜合性檢測機(jī)構(gòu)工業(yè)CT檢測-優(yōu)爾鴻信-有資質(zhì)

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  蘇州零部件清潔度檢測-第三方檢測機(jī)構(gòu)-優(yōu)爾鴻信

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  蘇州-第三方檢測-溫濕度循環(huán)測試-CNAS認(rèn)可

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  蘇州大型檢測機(jī)構(gòu)汽車零部件清潔度測試零部件清潔度檢測

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