礦石光譜儀通常由光源、光柵、檢測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成。光源發(fā)出特定波長的光束，經(jīng)過光柵的分光作用，將光束分成不同波長的光線。這些光線經(jīng)過礦石樣品后，部分被吸收、反射或透射。檢測器會測量礦石樣品在不同波長下的光強(qiáng)度，并將數(shù)據(jù)傳輸給數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。

分析性能，使其可以輕松完成對以下礦種的測試： 鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等) 銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等) 鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等) 鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等) 鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等) 鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等) 鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等) 鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等) 鋁土礦 其它礦類

產(chǎn)品特點
1.小型化、、高速度、易操作，高靈敏度、分析
2.可同時分析40種元素
3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù)
4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復(fù)性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率
5.記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計，雙真空抽速機(jī)構(gòu)，真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng)
6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件，多任務(wù)，多窗口操作
7.薄膜濾光片技術(shù)，有效提高輕元素檢出限

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