關(guān)鍵詞 |
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完成電路搭建后，需要對電路進(jìn)行調(diào)試和測試。這包括檢查電路連接是否正確、測量輸入輸出電壓是否符合設(shè)計要求等。如果發(fā)現(xiàn)問題，需要及時進(jìn)行排查和修復(fù)。
芯片在使用過程中，電子在不停撞擊著金屬銅，把它推向一側(cè)，另導(dǎo)線斷裂。熱載流子會撞擊柵極氧化層，令其損壞，導(dǎo)致器件失效，即所謂的HCI。在高溫下，介電層會慢慢的失效，導(dǎo)致本來隔離的兩個部分之間發(fā)生短路，所謂的TDDB。也就是說芯片也是有壽命的，芯片就是會壞的。
目前，國內(nèi)還有許多芯片設(shè)計廠商都處于飛速發(fā)展當(dāng)中，相信在未來，中國的芯片設(shè)計行業(yè)也能和國外的企業(yè)比肩，為國內(nèi)各個行業(yè)提供強(qiáng)大的芯片技術(shù)支撐。
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